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變頻抗干擾介質損耗測試儀

簡要描(miao)述:產品簡介
變頻抗干擾介質損耗(hao)測(ce)試(shi)儀是種絕緣測(ce)試(shi)儀,采用(yong)LCD漢字顯示界面(mian),全(quan)部操作由中(zhong)文菜單給予提示,儀器配(pei)備了(le)面(mian)板打印機并能存儲500次的(de)測(ce)量數(shu)(shu)據(ju),即使關閉(bi)電源數(shu)(shu)據(ju)亦不會丟(diu)失。當(dang)采用(yong)反接(jie)法測(ce)量時,由光纖(xian)傳遞信號(hao),隔離高壓、工作安全(quan)。儀器內部采用(yong)微機進行信息與數(shu)(shu)據(ju)處理,自動選擇測(ce)量量程,測(ce)量精度高,采用(yong)變頻技術抗外電場(chang)干擾性能好,升壓過程突然斷電不會引(yin)起過電壓。操作簡單,使用(yong)方(fang)便(bian)。

  • 產品(pin)型號(hao):
  • 廠商(shang)性質:生產廠家
  • 更新(xin)時(shi)間:2023-09-18
  • 訪  問  量:1225

 

產品簡(jian)介:
變頻抗干擾介質損耗測試儀揚州科拓電氣科技有(you)限(xian)公司(si)成功研發出的新代的介質損耗測試儀。隨著城鄉電網改造的不斷深入變電站電壓等級(ji)越(yue)來越(yue)高,倒相法(fa)、移(yi)相法(fa),已不能(neng)滿足現(xian)場測(ce)試需求(qiu),變(bian)頻測(ce)量(變(bian)頻),把50HZ變成其它頻率(lv),可以排除(chu)干擾。但由于(yu)電子技術的限制,其變頻后的頻率(lv)般(ban)離50HZ有(you)定距離,其(qi)50Hz條件下(xia)的電(dian)容值cxtgδ值(zhi)是換算模擬出來的,與真實工頻測(ce)試有(you)(you)定的距(ju)離,尤其對少(shao)數被試品(pin),測(ce)出數據就有(you)(you)明顯(xian)誤差(cha),經過綜合比較,現研制種新(xin)型介質損(sun)耗測(ce)量(liang)儀(yi),其原理不改(gai)變(bian)頻率,能得到50HZ條(tiao)件下電容值(zhi)cxtgδ值,提高測量可靠(kao)性和準確性,*抑制(zhi)電(dian)場(chang)干擾,滿足(zu)電(dian)場(chang)下的使(shi)用要求。本儀(yi)器與計算(suan)機連接,使(shi)用強大的軟件附件,對儀(yi)器升級,人(ren)性化(hua)設(she)計,全自動操(cao)作。本儀(yi)器適合(he)700kv及(ji)以下電站(zhan)有干(gan)擾(rao)現場(chang)的試驗。
 
變頻(pin)抗干擾(rao)介質損耗測試儀技術參數:
1、抗干擾方式:變頻抗干擾
2
、測(ce)試方式(shi):正接法測(ce)量、反(fan)接法測(ce)量/外標準電容器、CVT和內/外試(shi)驗電(dian)壓(ya)進行測量(liang)。正接線可(ke)測量(liang)高壓(ya)介損。
3
、儀器高壓輸出:0.5kV~10kV(每1kV檔)
4、電容測量范圍:Cx=30pF-40000PF,分辨率:0.1PF
 誤差:10kV時≤2000PF,2kV時≤60000PF,讀數×±1.0%±1PF
5、介質損耗因素測量范圍:tgδ:0.1%-10%,分辨率:0.0001誤 差:讀數×±1.0%±0.08%
6、頻率輸出:45Hz、50Hz、55Hz、55/65Hz、60Hz、65Hz
7、電源電壓:AC220V±10% 50Hz
8、使用環境:溫度-20℃~45℃ 濕度<85%
9、外型尺寸:470×370×410
10、重 量:20kg
 
 

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