KT2808變(bian)頻介質損耗(hao)測試儀

  概   述

KT2308變頻全自動介質損(sun)(sun)耗測(ce)試儀是發電(dian)(dian)廠(chang)、變(bian)電(dian)(dian)站等現(xian)場(chang)或實驗室測(ce)試各種高壓電(dian)(dian)力設備介損(sun)(sun)正切(qie)值及電(dian)(dian)容(rong)量的(de)高精度測(ce)試儀器(qi)。儀器(qi)為體(ti)(ti)化結構，內(nei)置介損(sun)(sun)測(ce)試電(dian)(dian)橋(qiao)，可變(bian)頻調(diao)壓電(dian)(dian)源(yuan)，升壓變(bian)壓器(qi)和SF₆ 高穩(wen)定度(du)標準電(dian)容器(qi)。測試(shi)(shi)高壓源(yuan)由儀器(qi)內部的逆變(bian)器(qi)產生(sheng)，經變(bian)壓器(qi)升壓后用(yong)于被試(shi)(shi)品測試(shi)(shi)。頻(pin)率可變(bian)為50Hz、47.5Hz\52.5Hz、45Hz\55Hz、60Hz、57.5Hz\62.5Hz、55Hz\65Hz，采用(yong)數(shu)字(zi)陷波技術，避開了(le)工頻(pin)電(dian)場(chang)對測試(shi)(shi)的干(gan)擾，從根本上解決了(le)強電(dian)場(chang)干(gan)擾下準確(que)測量(liang)的難題。同時(shi)適用(yong)于全部停電(dian)后用(yong)發電(dian)機供電(dian)檢測的場(chang)合。該儀器(qi)配以絕緣油杯加溫控裝置可測試(shi)(shi)絕緣油介(jie)質損耗。

儀器(qi)主要具有(you)如下特點：

• 超大液晶中文(wen)(wen)顯(xian)示

操(cao)作(zuo)(zuo)簡單，儀器配備了的(de)全觸(chu)摸液晶顯(xian)示屏(ping)，超大全觸(chu)摸操(cao)作(zuo)(zuo)界面，每過(guo)程都非常(chang)清(qing)晰明了，操(cao)作(zuo)(zuo)人員(yuan)不需(xu)要額(e)外(wai)的(de)專(zhuan)業培訓就能(neng)使用。輕輕點擊下(xia)就能(neng)完成整個過(guo)程的(de)測量，是目前非常(chang)理想的(de)智能(neng)型介(jie)損測量設(she)備。

• 海(hai)量存(cun)儲數據

儀器內部配備(bei)有(you)日歷(li)芯片和大容量存儲器，保(bao)存數據200組，能將檢(jian)測結果按時間(jian)順(shun)序(xu)保(bao)存，隨時可以(yi)查(cha)看歷(li)史記錄，并可以(yi)打印輸(shu)出。

• 科學(xue)的(de)數據管(guan)理

儀器(qi)數(shu)據(ju)可以(yi)通(tong)(tong)過U盤導出，可在任意臺PC機上(shang)通(tong)(tong)過我公司(si)軟件，查看和管(guan)理(li)數(shu)據(ju)。

• 多(duo)種測試模式

儀器(qi)能(neng)夠分別使用(yong)內高壓、外高壓、內標準、外標準、正接(jie)法(fa)、反(fan)接(jie)法(fa)、自激法(fa)等多種方式測試(shi)；在外標準外高壓情(qing)況下可以(yi)做高電壓（大于10kV）介質損耗。

• CVT測試步到(dao)位

該儀器還(huan)可以(yi)測試(shi)全密封的(de)(de)CVT（電容式(shi)電壓(ya)互感器）C1、C2的(de)(de)介損和電容量，實現了C1、C2的(de)(de)同時測試(shi)。該儀器還(huan)可以(yi)測試(shi)CVT變(bian)比和電壓(ya)角差。

• 不拆高壓引(yin)線測量CVT

儀器可在不拆除CVT高壓引線的情況下(xia)正確(que)測量CVT的介質損(sun)耗值(zhi)和電容(rong)值(zhi)。

• CVT反接(jie)屏蔽法測量C0

儀器可采用(yong)反(fan)接屏蔽法測量(liang)CVT上端(duan)C0的介(jie)質損耗值(zhi)和電容值(zhi)。

• 高(gao)速(su)采樣(yang)信號

儀器(qi)內部的逆變器(qi)和采樣(yang)電(dian)路全(quan)部由數字化控制，輸出(chu)電(dian)壓(ya)連續(xu)可調(diao)。

• 多重保護安全可靠

儀器(qi)具備輸(shu)入電壓(ya)(ya)波動、高(gao)壓(ya)(ya)電流、輸(shu)出(chu)短路、電源故障(zhang)、過壓(ya)(ya)、過流、溫(wen)度(du)等多重保(bao)護措施(shi)，保(bao)證了儀器(qi)安(an)全、可靠。儀器(qi)還具備設(she)置接(jie)地(di)檢測功能，確(que)保(bao)不接(jie)地(di)設(she)備不允許(xu)升壓(ya)(ya)。

二(er)  工作(zuo)原理

在交(jiao)流電(dian)(dian)壓作用(yong)下，電(dian)(dian)介(jie)質(zhi)(zhi)要消耗(hao)部分電(dian)(dian)能，這部分電(dian)(dian)能將轉變為(wei)(wei)熱能產生損耗(hao)。這種能量(liang)(liang)(liang)(liang)損耗(hao)叫做電(dian)(dian)介(jie)質(zhi)(zhi)的(de)損耗(hao)。當(dang)電(dian)(dian)介(jie)質(zhi)(zhi)上(shang)施(shi)加交(jiao)流電(dian)(dian)壓時，電(dian)(dian)介(jie)質(zhi)(zhi)中的(de)電(dian)(dian)壓和(he)(he)電(dian)(dian)流間成(cheng)在相(xiang)角差(cha)ψ，ψ的(de)余角δ稱(cheng)為(wei)(wei)介(jie)質(zhi)(zhi)損耗(hao)角，δ的(de)正切tgδ稱(cheng)為(wei)(wei)介(jie)質(zhi)(zhi)損耗(hao)角正切。tgδ值(zhi)是用(yong)來衡量(liang)(liang)(liang)(liang)電(dian)(dian)介(jie)質(zhi)(zhi)損耗(hao)的(de)參數(shu)。儀器(qi)(qi)(qi)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)線路(lu)(lu)(lu)包括標(biao)準(zhun)回(hui)(hui)(hui)路(lu)(lu)(lu)（Cn）和(he)(he)被(bei)試回(hui)(hui)(hui)路(lu)(lu)(lu)(Cx)，如圖2—1所示。標(biao)準(zhun)回(hui)(hui)(hui)路(lu)(lu)(lu)由(you)內置高穩定(ding)度標(biao)準(zhun)電(dian)(dian)容器(qi)(qi)(qi)與測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)線路(lu)(lu)(lu)組成(cheng)，被(bei)試回(hui)(hui)(hui)路(lu)(lu)(lu)由(you)被(bei)試品和(he)(he)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)線路(lu)(lu)(lu)組成(cheng)。測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)線路(lu)(lu)(lu)由(you)取(qu)樣電(dian)(dian)阻與前置放(fang)大器(qi)(qi)(qi)和(he)(he)A/D轉換器(qi)(qi)(qi)組成(cheng)。通過(guo)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)電(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)分別測(ce)(ce)得(de)標(biao)準(zhun)回(hui)(hui)(hui)路(lu)(lu)(lu)電(dian)(dian)流與被(bei)試回(hui)(hui)(hui)路(lu)(lu)(lu)電(dian)(dian)流幅值(zhi)及其相(xiang)位差(cha)，再由(you)數(shu)字信號處理器(qi)(qi)(qi)運用(yong)數(shu)字化實(shi)時采(cai)集方(fang)法，通過(guo)矢量(liang)(liang)(liang)(liang)運算得(de)出試品的(de)電(dian)(dian)容值(zhi)和(he)(he)介(jie)質(zhi)(zhi)損耗(hao)正切值(zhi)。儀器(qi)(qi)(qi)內部已經采(cai)用(yong)了抗(kang)干擾措施(shi)，保證在外(wai)電(dian)(dian)場干擾下準(zhun)確測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)。

                   圖 2—1  測量原理圖

三   主(zhu)要(yao)技(ji)術參數